- ◎ 無損檢測儀器
- 超聲波探傷儀 超聲波測厚儀 涂鍍層測厚儀 磁粉探傷儀 探傷劑 X射線探傷機(jī) 粗糙度儀 測振儀 硬度計(jì) 防護(hù)設(shè)備 黑光燈 頻閃儀 轉(zhuǎn)速表 觀片燈 推拉力計(jì) 彈簧試驗(yàn)機(jī) 電火花檢漏儀 試塊|探傷試塊 樓板厚度測量儀 裂縫深度測試儀 裂縫寬度測試儀 回彈儀 鋼筋保護(hù)層測定儀 變形模量測試儀 銹蝕儀 無損探傷配件 相控陣探頭 相控陣探傷儀 渦流探傷儀 點(diǎn)焊探頭 內(nèi)窺鏡 超聲波探頭
- ◎ 示波器
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- ◎ 安規(guī)測試設(shè)備
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CS7605價(jià)格/CS7605
閱讀： 發(fā)布時(shí)間：2016-09-04
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CS7600系列是采用自動(dòng)平衡電橋原理設(shè)計(jì)的高精度元件參數(shù)分析儀，其20Hz~2MHz的測試帶寬，1uHz步進(jìn)，頻率連續(xù)任意設(shè)置、0.01mΩ~100MΩ的阻抗測量范圍、0.05％的基本測量精度以及儀器所提供的自動(dòng)電平控制功能、列表掃描/圖形掃描功能和檔分選計(jì)數(shù)功能為絕大多數(shù)元器件和材料提供準(zhǔn)確、完整的測量與分析，廣泛適用于產(chǎn)品研發(fā)、元器件入廠檢驗(yàn)、產(chǎn)品的在線測試等應(yīng)用場合。
頻測量范圍
從20Hz-2MHz頻率連續(xù)，任意設(shè)置，頻率分辨率均為10μHz高分辨率和高精度
6位顯示分辨率，基本測量精度高達(dá)±0.05%
15種阻抗參數(shù)，23種參數(shù)組合
可測量電容（Cs/Cp）、電感（Ls/Lp）、電阻（Rs/Rp）、介質(zhì)損耗（D）、品質(zhì)因素 （Q）阻抗（|Z|）、導(dǎo)納（|Y|）、相角（θ ）、電導(dǎo)（Gp）、電抗（Xs）、電納 （Bp）、 直流電阻*（Rdc，僅CS7600X系列可測量） 每次測量同時(shí)顯示2種參數(shù)。注：下標(biāo)s----串聯(lián)模式，下標(biāo)p ----并聯(lián)模式
分選（BIN）測量
可設(shè)置10組分選項(xiàng)，利用測量結(jié)果對被測元件進(jìn)行篩選
負(fù)載補(bǔ)償功能
用參考樣品補(bǔ)償測量值。此功能可保證多臺(tái)儀器測量的一致性。
自動(dòng)電平控制功能
除了通常的開路激勵(lì)信號(hào)設(shè)置外，還可在恒壓/恒流模式下，對元件的電壓/電流特性進(jìn)行評估。信號(hào)電平設(shè)置范圍：5mVrms~2Vrms/50uA~20mA
列表掃描測試及圖形掃描測試分析功能
提供10組列表掃描組合和240點(diǎn)線性/對數(shù)圖形掃描功能；可分別將頻率、電壓、電流、偏置電壓、偏置電流作為掃描條件進(jìn)行設(shè)置，評估元件在各種測量條件下的性能特點(diǎn)
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20Hz～2MHz
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20Hz～1MHz
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20Hz～500kHz
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20Hz～300kHz
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20Hz～200kHz
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頻率精度
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±0.01%
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交流測試電平
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5mVrms～2Vrms(電壓模式) 1mV步進(jìn)
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5μArms～20mArms(電流模式) 10μA步進(jìn)
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內(nèi)直流偏置電平
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0～2V(電壓模式) 10mV步進(jìn)
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0～20mA(電流模式) 100μA步進(jìn)
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測量參數(shù)
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|Z|、|Y|、θ、Cs、Cp、Ls、Lp、Rs、Rp、X、
G、B、D、Q、Rdc(僅CS7600X系列可測量)
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|Z|、R、X、Rdc 0.01mΩ～99.9999MΩ
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| |Y|、G、B 0.01nS～99.9999S | |||||||||||
| C 0.01fF～9.99999F | |||||||||||
| L 0.01nH～99.9999kH | |||||||||||
| D 0.00001～9.99999 | |||||||||||
| Q 0.00001～99999.9 | |||||||||||
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θ
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DEG -9 | ||||||||||
| RAD -3. | |||||||||||
| △ 、% -999.999%～999.999% | |||||||||||
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基本精度
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Z±0.05% θ±0.0005
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列表掃描
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多10點(diǎn)
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圖形掃描
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多240點(diǎn)
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掃描模式：線形、對數(shù)
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測量量程
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1/10/100/300/1k/3k/10k/30k/100k/300k/1M/10M
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320×240
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外形尺寸
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寬×高×長＝450mm×135mm×355mm
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6kg
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名稱
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型號(hào)
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圖片
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類型
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描述
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標(biāo)配
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1個(gè)
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標(biāo)配
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1個(gè)
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標(biāo)配
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1個(gè)
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標(biāo)配
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1個(gè)
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